布魯克ContourX-500的光學(xué)系統(tǒng)與測(cè)量原理

ContourX-500的核心競(jìng)爭(zhēng)力源于其*的光學(xué)系統(tǒng)和對(duì)白光干涉原理的穩(wěn)定實(shí)現(xiàn)。理解其工作原理，有助于更有效地發(fā)揮儀器的性能。

白光掃描干涉技術(shù)（VSI）
ContourX-500主要采用白光掃描干涉法進(jìn)行測(cè)量。與單色光干涉不同，白光相干長(zhǎng)度很短，只有在光程差接近于零的極小范圍內(nèi)才會(huì)產(chǎn)生清晰的干涉條紋。測(cè)量時(shí)，儀器內(nèi)部的干涉物鏡會(huì)將一束白光分成兩路：一路投射到參考鏡，另一路投射到樣品表面。反射回來(lái)的兩路光發(fā)生干涉。通過(guò)精密壓電陶瓷（PZT）驅(qū)動(dòng)器帶動(dòng)干涉物鏡在Z方向進(jìn)行垂直掃描，記錄下每一個(gè)像素點(diǎn)光強(qiáng)隨時(shí)間變化的信號(hào)。

核心光學(xué)組件

1. 寬帶光源： 提供寬光譜范圍的白光，確保較短的相干長(zhǎng)度，從而精確定位零光程差的位置。

2. 干涉物鏡： 這是光學(xué)系統(tǒng)的核心。內(nèi)部集成了分光鏡和參考鏡。ContourX-500通常配備多種倍率的干涉物鏡（如5X, 10X, 20X, 50X），以適應(yīng)不同分辨率和視野的需求。物鏡的數(shù)值孔徑（NA）影響著橫向分辨率和垂直測(cè)量范圍。

3. 精密Z向掃描臺(tái)： 負(fù)責(zé)承載干涉物鏡進(jìn)行納米級(jí)精度的垂直運(yùn)動(dòng)，其掃描的平穩(wěn)性和定位準(zhǔn)確性直接關(guān)系到垂直方向的測(cè)量結(jié)果。

4. 高動(dòng)態(tài)范圍相機(jī)： 用于捕捉整個(gè)視場(chǎng)內(nèi)在掃描過(guò)程中每個(gè)位置的干涉圖像序列。

數(shù)據(jù)處理與三維重建
掃描結(jié)束后，每個(gè)像素點(diǎn)都會(huì)得到一組光強(qiáng)隨掃描位置變化的干涉信號(hào)。軟件算法會(huì)分析這組信號(hào)，通過(guò)尋找干涉條紋對(duì)比度最高的位置（即相干包絡(luò)的峰值），來(lái)精確計(jì)算出該像素點(diǎn)對(duì)應(yīng)的樣品表面高度值。對(duì)圖像中的所有像素點(diǎn)進(jìn)行同樣的計(jì)算，最終重建出完整的、具有真實(shí)高度信息的三維表面形貌圖。

技術(shù)特點(diǎn)
這種非接觸式測(cè)量方式避免了劃傷樣品或探針磨損的問(wèn)題，特別適合于柔軟、脆弱或需要無(wú)損檢測(cè)的樣品。同時(shí)，VSI技術(shù)對(duì)具有大臺(tái)階、高深寬比結(jié)構(gòu)的樣品也能進(jìn)行有效的測(cè)量。

ContourX-500的光學(xué)系統(tǒng)經(jīng)過(guò)精心設(shè)計(jì)和校準(zhǔn)，旨在將這一復(fù)雜的光學(xué)物理過(guò)程轉(zhuǎn)化為穩(wěn)定、可靠的表面三維數(shù)據(jù)，為使用者的分析工作打下堅(jiān)實(shí)的基礎(chǔ)。