布魯克三維光學(xué)輪廓儀從設(shè)備啟動(dòng)到數(shù)據(jù)分析

ContourX-500的操作流程兼顧效率與準(zhǔn)確性，通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)化步驟與智能化輔助功能，降低用戶學(xué)習(xí)成本。

設(shè)備準(zhǔn)備與校準(zhǔn)

1. 環(huán)境檢查：確保設(shè)備放置于水平臺(tái)面，溫度17-29℃、濕度30-65%，避免陽(yáng)光直射與強(qiáng)振動(dòng)源。

2. 光學(xué)校準(zhǔn)：開(kāi)機(jī)預(yù)熱10分鐘后，啟動(dòng)Vision64®軟件，選擇“系統(tǒng)校準(zhǔn)"模塊，使用NIST溯源的臺(tái)階標(biāo)樣（高度10μm）驗(yàn)證垂直分辨率，重復(fù)測(cè)量30次的標(biāo)準(zhǔn)偏差應(yīng)＜0.75%。

3. 光路對(duì)齊：放置樣品前，通過(guò)“實(shí)時(shí)預(yù)覽"功能調(diào)整物鏡焦距與光強(qiáng)，確保干涉條紋清晰可見(jiàn)。

測(cè)量流程

1. 樣品固定：使用真空吸盤(pán)或磁性?shī)A具固定樣品，避免手動(dòng)接觸導(dǎo)致污染。對(duì)于曲面樣品（如透鏡），需選用專用光學(xué)夾具并調(diào)整光軸對(duì)齊。

2. 參數(shù)設(shè)置：根據(jù)樣品特征選擇測(cè)量模式（如PSI模式適用于平滑表面，VSI模式適用于臺(tái)階結(jié)構(gòu)），設(shè)置掃描范圍（最大5mm×5mm）、步長(zhǎng)（推薦0.5μm）與拼接方式（自動(dòng)或手動(dòng)）。

3. 數(shù)據(jù)采集：點(diǎn)擊“開(kāi)始掃描"后，設(shè)備自動(dòng)完成光強(qiáng)校準(zhǔn)、背景校正與形貌重建，單次測(cè)量時(shí)間依區(qū)域大小而定（通常2-10分鐘）。

數(shù)據(jù)分析與導(dǎo)出
軟件支持三維形貌圖、截面曲線與統(tǒng)計(jì)報(bào)表的生成，數(shù)據(jù)可導(dǎo)出為CSV、DXF或圖像格式（PNG、TIFF）。通過(guò)“批量處理"功能，用戶可同時(shí)分析多個(gè)樣品的數(shù)據(jù)，并生成符合ISO 25178標(biāo)準(zhǔn)的定制化報(bào)告。

布魯克三維光學(xué)輪廓儀從設(shè)備啟動(dòng)到數(shù)據(jù)分析