徠卡研究級(jí)超景深數(shù)碼顯微鏡 DVM6 的三維成像功能，是通過(guò) “多焦面圖像采集 + 算法重構(gòu)" 的技術(shù)路徑實(shí)現(xiàn)，能將樣品表面的立體形貌以數(shù)字化模型形式呈現(xiàn)，突破傳統(tǒng)二維圖像無(wú)法展現(xiàn)的深度信息限制。
具體流程分為三步：首先，設(shè)備根據(jù)樣品表面高度差異，自動(dòng)設(shè)定焦平面采集范圍，從樣品低處到最高處，以固定間隔（可通過(guò)軟件設(shè)置，范圍 0.1μm-10μm）采集數(shù)十至數(shù)百?gòu)埐煌姑娴亩S清晰圖像；其次，配套軟件對(duì)這些圖像進(jìn)行像素級(jí)匹配，識(shí)別每張圖像中的清晰區(qū)域，剔除模糊部分；最后，通過(guò)三維重構(gòu)算法，將不同焦面的清晰區(qū)域按空間位置拼接，生成包含 X、Y 軸（水平方向）與 Z 軸（高度方向）信息的三維模型。
在成像過(guò)程中，用戶可通過(guò)軟件調(diào)節(jié) “掃描密度" 參數(shù)：高密度掃描適合表面起伏復(fù)雜的樣品（如多孔陶瓷），能捕捉更多細(xì)節(jié)，但耗時(shí)稍長(zhǎng)；低密度掃描適合表面相對(duì)平整的樣品（如金屬薄膜），可提升成像效率。此外，軟件還提供 “表面平滑"“邊緣增強(qiáng)" 等后期處理功能，可根據(jù)分析需求優(yōu)化三維模型的視覺(jué)效果，例如在觀察電子元件引腳焊點(diǎn)時(shí)，啟用 “邊緣增強(qiáng)" 能更清晰區(qū)分焊點(diǎn)與引腳的邊界。
核心測(cè)量功能與參數(shù)解析
DVM6 的測(cè)量功能覆蓋長(zhǎng)度、角度、面積、體積及粗糙度等多個(gè)維度，所有測(cè)量操作均基于三維模型數(shù)據(jù)進(jìn)行，減少傳統(tǒng)二維測(cè)量中因視角偏差導(dǎo)致的誤差。
1. 基礎(chǔ)幾何測(cè)量
2. 粗糙度測(cè)量
粗糙度測(cè)量是 DVM6 在工業(yè)檢測(cè)中的常用功能，支持符合 ISO 4287 標(biāo)準(zhǔn)的多項(xiàng)粗糙度參數(shù)計(jì)算，包括 Ra（算術(shù)平均偏差）、Rz（最大高度）、Rq（均方根偏差）等。測(cè)量時(shí)，用戶需在三維模型上劃定測(cè)量區(qū)域（可選擇直線、圓弧或矩形區(qū)域），軟件會(huì)自動(dòng)計(jì)算該區(qū)域內(nèi)的粗糙度參數(shù)，并生成粗糙度曲線（如輪廓曲線、斷面曲線）。以汽車發(fā)動(dòng)機(jī)氣門(mén)表面檢測(cè)為例，通過(guò)測(cè)量 Ra 值可判斷表面加工精度是否符合裝配要求，通常要求 Ra 值控制在 0.2μm 以下，DVM6 可快速完成該參數(shù)的測(cè)量與記錄。
3. 關(guān)鍵測(cè)量參數(shù)表
行業(yè)應(yīng)用案例與操作步驟
1. 電子行業(yè)：芯片引腳平整度檢測(cè)
應(yīng)用場(chǎng)景：檢測(cè)芯片引腳的高度一致性，避免因引腳高低差過(guò)大導(dǎo)致焊接不良。
操作步驟：
① 將芯片固定在載物臺(tái)上，選擇 20× 物鏡，開(kāi)啟同軸光源（減少金屬引腳反光）；
② 啟動(dòng)三維掃描，設(shè)置掃描范圍覆蓋所有引腳（約 2mm×1mm），掃描密度設(shè)為 “中"；
③ 掃描完成后，在三維模型上標(biāo)記每個(gè)引腳的頂端點(diǎn)，通過(guò) “垂直距離測(cè)量" 功能，計(jì)算各引腳頂端與基準(zhǔn)面（芯片本體表面）的高度值；
④ 軟件自動(dòng)生成高度數(shù)據(jù)表格，統(tǒng)計(jì)最大高度差，若差值超過(guò) 0.1mm，則判定為不合格品。
2. 材料行業(yè)：復(fù)合材料表面缺陷分析
應(yīng)用場(chǎng)景：分析碳纖維復(fù)合材料表面凹坑的大小與深度，評(píng)估材料成型質(zhì)量。
操作步驟：
① 放置樣品，選擇 50× 物鏡（觀察細(xì)微缺陷），開(kāi)啟環(huán)形光源（增強(qiáng)凹坑立體感）；
② 對(duì)缺陷區(qū)域進(jìn)行高密度三維掃描，生成三維模型；
③ 使用 “體積測(cè)量" 功能，劃定凹坑區(qū)域，計(jì)算凹坑體積；
④ 通過(guò) “粗糙度測(cè)量" 功能，計(jì)算缺陷周圍區(qū)域的 Ra 值，對(duì)比無(wú)缺陷區(qū)域的 Ra 值，判斷缺陷對(duì)表面粗糙度的影響。
測(cè)量數(shù)據(jù)管理與導(dǎo)出
DVM6 配套軟件具備完善的數(shù)據(jù)管理功能，支持將測(cè)量結(jié)果、三維模型、原始圖像按 “項(xiàng)目 - 樣品 - 批次" 的層級(jí)分類存儲(chǔ)，方便后續(xù)查詢與追溯。數(shù)據(jù)導(dǎo)出格式多樣，三維模型可導(dǎo)出為 PLY、STL 格式（用于 3D 打印或其他三維分析軟件），測(cè)量數(shù)據(jù)可導(dǎo)出為 Excel、CSV 格式（用于數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)與報(bào)告生成），圖像可導(dǎo)出為 JPEG、TIFF 格式（支持無(wú)損保存）。
操作時(shí)，只需在軟件界面點(diǎn)擊 “導(dǎo)出" 按鈕，選擇對(duì)應(yīng)的格式與保存路徑即可完成操作。此外，軟件還支持生成標(biāo)準(zhǔn)化檢測(cè)報(bào)告，可自動(dòng)插入樣品信息、測(cè)量參數(shù)、三維模型截圖及測(cè)量結(jié)果，減少人工整理報(bào)告的工作量，適合工業(yè)生產(chǎn)中的批量檢測(cè)場(chǎng)景。
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