電子元件檢測(cè)幫手：Zygo激光干涉光學(xué)輪廓儀

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電子元件檢測(cè)幫手：Zygo激光干涉光學(xué)輪廓儀
電子元件如芯片封裝、連接器的表面質(zhì)量與尺寸精度，直接影響電子設(shè)備的性能與穩(wěn)定性，Zygo 3D 光學(xué)輪廓儀 NewView™ 9000 能精準(zhǔn)檢測(cè)電子元件關(guān)鍵部位，成為電子元件生產(chǎn)質(zhì)檢的實(shí)用幫手。

產(chǎn)品型號(hào)：Zygo NewView 9000

更新時(shí)間：2025-10-24

廠商性質(zhì)：代理商

訪問量：109

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激光干涉儀

ZYGO光學(xué)輪廓儀 Zygo激光干涉儀

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電子元件檢測(cè)幫手：Zygo激光干涉光學(xué)輪廓儀

電子元件如芯片封裝、連接器的表面質(zhì)量與尺寸精度，直接影響電子設(shè)備的性能與穩(wěn)定性，Zygo 3D 光學(xué)輪廓儀 NewView™ 9000 能精準(zhǔn)檢測(cè)電子元件關(guān)鍵部位，成為電子元件生產(chǎn)質(zhì)檢的實(shí)用幫手。

產(chǎn)品細(xì)節(jié)上，NewView™ 9000 配備電子元件專用夾具，可固定芯片、連接器、電容等不同類型的電子元件，夾具設(shè)計(jì)貼合元件外形，避免檢測(cè)時(shí)損傷元件引腳或封裝結(jié)構(gòu)。設(shè)備的光學(xué)鏡頭可快速切換倍率，既能觀察電子元件的整體外觀，也能聚焦到引腳間距、封裝膠體高度等關(guān)鍵細(xì)節(jié)。操作軟件中設(shè)有 “電子元件檢測(cè)模板"，包含引腳共面度、封裝厚度等常見檢測(cè)項(xiàng)目，一鍵調(diào)用即可啟動(dòng)檢測(cè)。

性能方面，該設(shè)備的非接觸式檢測(cè)方式，不會(huì)對(duì)電子元件的精密結(jié)構(gòu)造成物理?yè)p傷，適合檢測(cè)脆弱的芯片封裝與細(xì)小引腳。在檢測(cè)引腳共面度時(shí)，能快速測(cè)量多個(gè)引腳的高度差，精度滿足電子元件的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。檢測(cè)數(shù)據(jù)可自動(dòng)生成報(bào)表，標(biāo)注不合格的元件與缺陷位置，方便質(zhì)檢人員快速篩選。

用材上，NewView™ 9000 的夾具采用防靜電材料，避免靜電損壞電子元件，尤其適合芯片等敏感元件的檢測(cè)。設(shè)備內(nèi)部的光學(xué)部件經(jīng)過防塵處理，減少電子元件生產(chǎn)環(huán)境中粉塵對(duì)檢測(cè)精度的影響。

以下是 Zygo 3D 光學(xué)輪廓儀 NewView™ 9000 的部分參數(shù)表：

參數(shù)類別	參數(shù)詳情
檢測(cè)技術(shù)	光學(xué)干涉技術(shù)（相移干涉、白光干涉可選）
引腳檢測(cè)	可檢測(cè)最小引腳間距 0.1mm 的元件（需適配高倍率物鏡）
共面度測(cè)量	測(cè)量精度可達(dá) 10nm（取決于元件尺寸）
封裝厚度檢測(cè)	支持 0.1mm 至 10mm 封裝厚度測(cè)量
報(bào)表生成	支持 Excel、PDF 等多種報(bào)表格式導(dǎo)出

用途上，它可用于芯片封裝的引腳共面度檢測(cè)、連接器的插針高度測(cè)量、電容電阻的封裝尺寸驗(yàn)證等。在電子元件研發(fā)中，能幫助工程師觀察新結(jié)構(gòu)元件的成型效果，優(yōu)化設(shè)計(jì)方案；在生產(chǎn)車間，可作為出廠質(zhì)檢設(shè)備，保障電子元件質(zhì)量

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