白光干涉儀S neox的校準(zhǔn)與準(zhǔn)確性

產(chǎn)品簡介

白光干涉儀S neox的校準(zhǔn)與準(zhǔn)確性：Sensofar S neox 3D光學(xué)輪廓儀通過系統(tǒng)化校準(zhǔn)流程，確保XY尺寸、Z軸高度及干涉參考平等精確可溯，為科研與精密制造提供可靠、可復(fù)現(xiàn)的納米級測量數(shù)據(jù)。

產(chǎn)品型號：

更新時間：2025-11-14

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

三維光學(xué)輪廓儀

布魯克 BEUKER白光干涉光學(xué)輪廓儀 Sensofar 儀光新型共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR 3D光學(xué)輪廓儀 SENSOFAR共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR結(jié)構(gòu)光三維輪廓儀 SENSOFAR平面度測量干涉儀 ZYGO三維光學(xué)輪廓儀布魯克三維光學(xué)輪廓儀

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白光干涉儀S neox的校準(zhǔn)與準(zhǔn)確性

在精密測量領(lǐng)域，測量結(jié)果的可靠性和可信度是首要考慮的因素。儀器的校準(zhǔn)是確保測量數(shù)據(jù)準(zhǔn)確、可追溯至國際標(biāo)準(zhǔn)的基石。Sensofar S neox 3D光學(xué)輪廓儀提供了系統(tǒng)化的校準(zhǔn)流程和工具，致力于保證在不同測量模式下獲得數(shù)據(jù)的一致性和準(zhǔn)確性。

校準(zhǔn)的本質(zhì)是通過與已知標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行比對，來標(biāo)定測量系統(tǒng)的尺度。對于S neox這樣的三維光學(xué)測量系統(tǒng)，校準(zhǔn)主要涉及幾個方面：XY平面的尺寸校準(zhǔn)、Z軸的垂直距離校準(zhǔn)，以及對于白光干涉模式至關(guān)重要的參考平面平整度校準(zhǔn)。

S neox的軟件通常內(nèi)置了清晰的校準(zhǔn)向?qū)В龑?dǎo)用戶逐步完成整個過程。對于XY校準(zhǔn)，會使用具有標(biāo)準(zhǔn)刻度（如微米級光柵）的參考樣板。系統(tǒng)通過成像并分析該樣板，來精確校準(zhǔn)每個物鏡的放大率，確保在水平方向上測量的尺寸與實際物理尺寸一致。

Z軸校準(zhǔn)同樣關(guān)鍵。它會使用具有已知高度（如臺階高度標(biāo)準(zhǔn)片）的參考物。儀器通過掃描這個臺階，將測量得到的高度值與標(biāo)準(zhǔn)證書上的標(biāo)稱值進(jìn)行比對和校正，從而確保垂直方向測量的準(zhǔn)確性。這個過程對于共聚焦和白光干涉模式都十分重要。

對于白光干涉模式，還有一個特殊的校準(zhǔn)步驟：參考鏡平整度校準(zhǔn)。由于干涉測量是將樣品表面與一個內(nèi)部參考鏡進(jìn)行比較，任何參考鏡本身或光學(xué)系統(tǒng)固有的微小誤差都會影響測量結(jié)果。因此，儀器會通過測量一個光學(xué)平晶（其表面平整度是已知的）來記錄系統(tǒng)固有的誤差圖。在后續(xù)測量中，軟件會自動從樣品測量結(jié)果中減去這個誤差圖，從而得到更能反映樣品真實形貌的數(shù)據(jù)。

這些校準(zhǔn)工作并非一勞永逸。建議用戶根據(jù)使用頻率和環(huán)境穩(wěn)定性，定期進(jìn)行校準(zhǔn)，以確保儀器持續(xù)處于良好的工作狀態(tài)。良好的校準(zhǔn)實踐，使得不同時間、由不同操作者使用同一臺S neox獲得的數(shù)據(jù)可以相互比較，這對于長期的研究項目和生產(chǎn)過程的質(zhì)量追蹤尤為重要。

此外，校準(zhǔn)用的參考標(biāo)準(zhǔn)件本身需要可以溯源至國家或國際標(biāo)準(zhǔn)，從而建立起完整的量值溯源鏈。這意味著，用戶最終獲得的納米級高度測量結(jié)果，其可靠性是有據(jù)可依的。

因此，Sensofar S neox不僅提供了測量的能力，更通過一套完善的校準(zhǔn)體系，為測量結(jié)果的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性提供了支持，這對于需要嚴(yán)謹(jǐn)數(shù)據(jù)的科研和精密制造領(lǐng)域而言，是一項基礎(chǔ)且重要的特性。