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澤攸電鏡微觀世界的清晰窗口 澤攸 電鏡作為一款基礎(chǔ)型掃描電鏡，在材料表面觀察領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。其核心電子光學系統(tǒng)采用高品質(zhì)磁透鏡，通過多層線圈纏繞技術(shù)，形成均勻的磁場分布，為電子束的聚焦提供穩(wěn)定條件。

樣品處理與制備：ZEM系列臺式電鏡 澤攸電鏡的JS系列臺階儀是進行納米尺度表面輪廓和膜厚測量的工具。它與掃描電鏡技術(shù)相結(jié)合，可提供多維度的樣品信息。

原位實驗方案：ZEM系列臺式電鏡介紹 澤攸電鏡的JS系列臺階儀是進行納米尺度表面輪廓和膜厚測量的工具。它與掃描電鏡技術(shù)相結(jié)合，可提供多維度的樣品信息。

納米尺度分析：ZEM系列臺式電鏡介紹 澤攸電鏡的JS系列臺階儀是進行納米尺度表面輪廓和膜厚測量的工具。它與掃描電鏡技術(shù)相結(jié)合，可提供多維度的樣品信息。

高分辨成像：ZEM系列臺式電鏡介紹 對于尋求高分辨成像能力的用戶，澤攸電鏡的ZEM系列臺式掃描電鏡將高性能融入小巧的機身中。該產(chǎn)品減少了用戶對大型設(shè)備空間的依賴。

澤攸透射電鏡：探索微觀世界 澤攸電射推出的PicoScan系列掃描電鏡（SEM），為材料科學、生物醫(yī)學和納米技術(shù)研究提供了一種觀察工具。該系列電鏡設(shè)計緊湊，適合實驗室環(huán)境。