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Sensofar白光干涉光學輪廓儀在材料科學應用材料科學研究需要對材料表面的微觀形貌進行精確表征，以理解其性能和行為。白光干涉光學輪廓儀作為一種非接觸式測量工具，能夠提供表面粗糙度、輪廓形狀和微觀結構的三維信息，適用于多種材料的研究與開發(fā)。

Sensofar白光干涉光學輪廓儀在半導體中應用在半導體制造領域，表面形貌的精確測量對產(chǎn)品質(zhì)量控制至關重要。白光干涉光學輪廓儀作為一種非接觸式測量工具，能夠提供納米級精度的表面高度信息，適用于半導體晶片、薄膜、封裝結構等多種材料的平面度測量。

Sensofar白光干涉光學輪廓儀的測量模式白光干涉光學輪廓儀通常配備多種測量模式，以適應不同表面特性的樣品。Sensofar S neox 光學輪廓儀將共聚焦、白光干涉和相位差干涉等多種技術集成于一體，用戶可以通過軟件一鍵切換，無需更換硬件組件。

Sensofar白光干涉光學輪廓儀的工作原理 白光干涉光學輪廓儀是一種基于白光干涉原理的非接觸式表面形貌測量儀器。它通過分析光線在參考鏡和樣品表面反射后形成的干涉條紋來重建樣品表面的三維形貌。這種技術能夠提供表面高度信息，適用于從納米級到毫米級的表面特征測量。

sensofar 3D 光學輪廓儀提升消費電子品質(zhì)消費電子產(chǎn)品如手機、電腦、智能穿戴設備等，朝著輕薄化、高精度、高顏值方向發(fā)展，對產(chǎn)品外觀與內(nèi)部結構的質(zhì)量要求不斷提高。Sensofar 新型 3D 共聚焦白光干涉光學輪廓儀 S neox，作為一款專業(yè)的 3D 輪廓儀，憑借對微觀結構的精準檢測能力，為消費電子產(chǎn)品的品質(zhì)提升提供了有力支持。

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